本文標(biāo)題："分光器原理-測(cè)量光譜時(shí),通常可以得到兩個(gè)數(shù)據(jù)"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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分光器原理-測(cè)量光譜時(shí),通常可以得到兩個(gè)數(shù)據(jù)
我們把利用波長(zhǎng)(或頻率)來進(jìn)行區(qū)分包括紅外線在內(nèi)的電磁波的裝
置叫做分光器(Spectrometer)。原理。分光器的主要組成部分如下
：
(1)光源(采用碳硅棒)；
(2)入口狹縫(為提高分辨率使光束變細(xì))；
(3)平行光管(凹面鏡，使光束平行)；
(4)單色器(棱鏡，或衍射光柵，用波長(zhǎng)分光)；
(5)會(huì)聚鏡(凹面鏡，使光束會(huì)聚在出口狹縫上)：
(6)出口狹縫；
(7)檢測(cè)器(使用光電池、光敏半導(dǎo)體、熱電偶和紅外線指示器
等)。
從狀態(tài)分析的觀點(diǎn)出發(fā)觀察物質(zhì)時(shí)，紅外線分光光度分析法是研究
“分子狀態(tài)”的方法，而X射線衍射法和電子衍射法則是研究“晶
體狀態(tài)"的方法，俄歇電子能譜分析法和電子能譜分析法是研究“
電子狀態(tài)”的方法。所得到的分析結(jié)果也隨各種方法的不同而異。
在應(yīng)用紅外線分光光度分析法時(shí)，很關(guān)鍵的一條是一定充分理解各
種分析方法，然后針對(duì)分析目的的不同，靈活地加以使用。
紅外線分光光度分析法，具有試樣用量少(通常為一毫克)和能
用于分析晶體性弱的物質(zhì)。而且在測(cè)量光譜時(shí)，通常可以得到兩個(gè)
數(shù)據(jù)。一個(gè)是吸收何種波長(zhǎng)的光、另一個(gè)是吸收強(qiáng)度。紅外線光譜
分析法，可以說是通過處理這兩個(gè)數(shù)據(jù)而獲得有關(guān)的信息的一種分
析方法。
此外，在使用以紅外線分光光度分析法為主的光子探針分析法
時(shí)。必須注意的是，這種方法不能任意選擇波長(zhǎng)、不能聚焦，而且
線源強(qiáng)度也有限制。
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