本文標(biāo)題："掃描顯微鏡的工作原理簡(jiǎn)介-上海光學(xué)儀器一廠"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 技術(shù)文章 ------
人瀏覽過-----時(shí)間：2013-1-12 10:21:28
掃描探針顯微術(shù)的工作原理
掃描探針顯微術(shù)(Scanning Probe Microscopy:SPM)是近十幾年來，
因STM的發(fā)明，而蓬勃發(fā)展出來的一系列顯微技術(shù)的總稱。
這些顯微術(shù)都是利用一支微小探針，來偵測(cè)探針尖端與樣品表面之間的某些交互作用。
前面所提的STM是偵測(cè)穿隧電流。如是偵測(cè)接觸力(原子之間的排斥力)或凡得瓦引力
就稱原子力顯微鏡(Atomic Force Microscope:AFM)。偵測(cè)磁
力稱磁力顯微鏡(Magnetic Force Microscope:MFM)。偵測(cè)橫向力稱橫向力顯微鏡(Lateral Force Microscope;LFM)。
偵測(cè)電解液中的法拉第電流稱為掃描電化學(xué)顯微鏡(ScanningElectro chemical Microscope)。
在種類繁多的SPM中，最常用的兩種技術(shù)是STM及AFM。由于STM 量測(cè)的是探針與材料
表面原子之間的穿隧電流。因此樣品限定必須是導(dǎo)體。而AFM則對(duì)導(dǎo)體及非導(dǎo)體材料均可適用。所以它在材料科技方
面的應(yīng)用特別的方便、重要和普遍。
后一篇文章： 掃描式電子顯微鏡最佳解析度已達(dá)0.6nm，具有景深長(zhǎng)的特點(diǎn) »
前一篇文章：« 接觸式AFM電子顯微鏡儀器的優(yōu)點(diǎn)有哪些
tags:技能,金相分析,科學(xué),金相顯微鏡,上海精密儀器,
掃描顯微鏡的工作原理簡(jiǎn)介-上海光學(xué)儀器一廠,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁(yè)地址：/gxnews/465.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/