本文標題："電子顯微鏡觀察氧化鋁膜的結(jié)構(gòu)-測量光學(xué)儀器"
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電子顯微鏡觀察氧化鋁膜的結(jié)構(gòu)-測量光學(xué)儀器
電容法測最氣體或液體中痕量水份是目前比較先進的方法。在此方
法中所用的濕教元件是以在鋁荃底上由陽極氧化產(chǎn)生一層多孔疏松的氧
化鋁膜為介質(zhì)，
以基底鋁和夜蓋在氧化膜上面的金屬為電極的電容器。
共濕度變化的敏感性全靠氧化鋁膜的孔洞對水汽分子的吸附作用，
所以要求電子顯微鏡觀察氧化鋁膜的結(jié)構(gòu)。
由于氧化鋁膜又小又薄，這對制備透射電鏡樣品是相當困難的，為
此在制樣時采取了一種特殊的辦法，即使氧化膜的表面與氧化膜的橫截
面這兩個相互垂直的面的復(fù)型在同一平面上。
最終在電子顯微鏡上觀察到了氧化膜的表面、氧化膜的橫截面及權(quán)
化膜的生長全過程，為研制濕敏元件提供了可靠的依據(jù)。
電子顯微鏡是研究高聚物多種復(fù)雜的聚染態(tài)結(jié)構(gòu)的重要工具之一。
然而，由于高聚物大都由碳、氫、氧、氮等輕元素組成，電鏡觀察
時，試樣對入射電子散射能力很弱，單靠共本身的微小的質(zhì)量密度差，
一般難以提供足夠辯認的圖象反差，
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