本文標(biāo)題："透射式電子顯微鏡在合金研究中的應(yīng)用分析"
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透射式電子顯微鏡在合金研究中的應(yīng)用分析
早期對時(shí)效硬化合金的硬化機(jī)理的解釋，由于缺乏實(shí)驗(yàn)
資料而受到了限制。但當(dāng)時(shí)就提出了兩個(gè)重要概念。其中一
個(gè)是認(rèn)為硬化(或合金形變阻力增加)是由于質(zhì)點(diǎn)沉淀在晶
休學(xué)平面上限礙滑移而引起的。另一個(gè)是認(rèn)為最大硬化效應(yīng)
與臨界質(zhì)點(diǎn)尺寸有關(guān)。從本質(zhì)上來說，現(xiàn)代的沉淀硬化概念
就是用位錯(cuò)理論來考慮這兩個(gè)想法。.因?yàn)闀r(shí)效硬化合金的強(qiáng)
度是受運(yùn)動位錯(cuò)和沉淀物的相互作用控制的。
在時(shí)效硬化合金中位錯(cuò)運(yùn)動的障礙物是沉淀物(特別是
GP區(qū))周圍的內(nèi)部應(yīng)變和實(shí)際沉淀物本身。關(guān)于前者，已經(jīng)
證明在質(zhì)點(diǎn)間距等于運(yùn)動位錯(cuò)線的極限曲率半徑(約50個(gè)原
子間距或10毫微米)時(shí)位錯(cuò)運(yùn)動受到最大阻力(也就是最大
硬化)。在這階段，大多數(shù)合金中最主要沉淀物是共格GP區(qū)。
經(jīng)高分辨率的透射電鏡揭示:事實(shí)上這些區(qū)被運(yùn)動位錯(cuò)所切
過。因此.單個(gè)GP區(qū)本身對阻礙滑動位錯(cuò)只起很小的作用，
而只是由于它們具有較大的體積分?jǐn)?shù)才引起屬服強(qiáng)度顯著
增加。
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