本文標(biāo)題："金屬截面光學(xué)顯微鏡觀察剖面的金相結(jié)構(gòu)"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
人瀏覽過(guò)-----時(shí)間：2014-5-31 5:15:32
金屬截面光學(xué)顯微鏡觀察剖面的金相結(jié)構(gòu)
除了對(duì)斷口的光學(xué)顯微鏡觀察外還可進(jìn)行斷口剖面觀察。在分析研究斷裂原因、斷
裂過(guò)程時(shí)，僅靠斷口形貌分析是不夠的，往往還需要觀察斷口的垂直截面，以利于搞清斷
口表面(主裂紋)走向與晶粒的位向關(guān)系、與晶界的關(guān)系、與夾雜物的關(guān)系、與孿晶的位向
關(guān)系以及二次裂紋的走向與分布等。斷口剖面分析能有效地揭示材料在制造、加工過(guò)程
中產(chǎn)生的缺陷，分析各種不利工況和環(huán)境對(duì)材料性能的影響等。它可以對(duì)夾雜物、微觀組
織偏析、脫碳、增碳、熱處理不當(dāng)、硬化層深度、鍍層厚度、晶粒大小及熱影響區(qū)進(jìn)行檢測(cè)和
分析。
斷口剖面通常是垂直于斷口表面，有時(shí)也可使剖面與斷口表面呈一定角度。制備剖
面樣品時(shí)必須保護(hù)好斷口表面，通常采用鍍鎳保護(hù)，也可采用金相鑲嵌法保護(hù)。
電子顯微鏡在斷口分析中應(yīng)用廣泛。它可以依據(jù)斷口的微觀形貌特征判定斷裂的類(lèi)
型，從裂紋源處查明斷裂原因。它還能進(jìn)行斷裂失教的定量分析，如進(jìn)行韌性的定量測(cè)
量，分析測(cè)定裂紋的擴(kuò)展速率、斷裂過(guò)程與影響因素之間的定量關(guān)系等。因此，電子斷口
分析對(duì)斷裂機(jī)理的研究有重要作用。
斷口微觀形貌中.韌窩、解理花樣、疲勞輝紋等分別是判斷金屬韌性斷裂、解理斷裂和
疲勞斷裂的主要依據(jù)。
后一篇文章：偏光顯微鏡和普通光鏡結(jié)構(gòu)差不多相同但有其特點(diǎn) »
前一篇文章：« 顯微鏡測(cè)微目鏡-光學(xué)儀器的調(diào)節(jié)結(jié)構(gòu)
tags:材料學(xué),技術(shù),制造,金相顯微鏡,上海精密儀器,
金屬截面光學(xué)顯微鏡觀察剖面的金相結(jié)構(gòu),金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁(yè)地址：/gxnews/1652.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/