本文標(biāo)題："測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度的應(yīng)用-粗糙度測(cè)量?jī)x器"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度的應(yīng)用-粗糙度測(cè)量?jī)x器
磁性法
磁性法測(cè)量鍍覆層厚度，是用磁性測(cè)厚儀對(duì)磁性基體上的非磁性
鍍覆層進(jìn)行的非破壞性測(cè)量。
用磁性測(cè)厚儀測(cè)量鍍層厚度時(shí)，應(yīng)注意以下幾點(diǎn):
1)對(duì)每種磁性測(cè)量?jī)x，基體金屬都有一極限厚度，其極限厚度
對(duì)不同的儀器是不同的。若基體金屬厚度小于極限厚度，對(duì)測(cè)量結(jié)果
有影響。當(dāng)遇此情況，在測(cè)最時(shí)應(yīng)該用與受檢試樣材質(zhì)相同的材料襯
墊在下面，或用與受檢試樣厚度相同、材質(zhì)相同的標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校
準(zhǔn)。
2)測(cè)量前，應(yīng)該除掉鍍層表面上的油污及其它外在雜質(zhì)，并且
不應(yīng)在有可見(jiàn)的缺陷，如焊接熔劑、酸斑、渣滓或氧化物處進(jìn)行測(cè)
量。
3)在粗糙表面上測(cè)量時(shí)，應(yīng)在相同表面狀態(tài)的未鍍夜的基體金·
屬表面上進(jìn)行校準(zhǔn)。
4)測(cè)量時(shí)，探頭要垂直放在試樣表面上。對(duì)于依測(cè)量斷開(kāi)力為
基礎(chǔ)的磁性測(cè)厚儀，因受地球重力場(chǎng)影響，用于水平方向或倒置方向
測(cè)量時(shí)，應(yīng)在相同方位上進(jìn)行校準(zhǔn)。
5)測(cè)量時(shí)，探頭一般不應(yīng)該在彎曲處、靠近邊緣或內(nèi)角處測(cè)量。
如要求在這樣位置測(cè)盆時(shí)，應(yīng)該進(jìn)行特別校準(zhǔn)，并引人校正系數(shù)。
6)采用兩極式探頭的儀器進(jìn)行測(cè)量時(shí)，應(yīng)使探頭的取向與校準(zhǔn)
件的取向相同，或?qū)⑻筋^在相互成40'角的兩個(gè)方向上進(jìn)行兩次測(cè)量。
7)使用磁力性儀器測(cè)盆鋁和鋁合金鍍層厚度時(shí)，磁體探頭會(huì)被
鍍層粘附，這時(shí)可在鍍層表面上涂上油膜，以改善重現(xiàn)性。但這不能
用于其它鍍層。
8)含磷量大于8%的化學(xué)鍍攝的磷—鎳合金層是非磁性鍍層。
因此，應(yīng)在熱處理前測(cè)量厚度。若在熱處理后測(cè)量，則儀器應(yīng)該在經(jīng)
過(guò)熱處理的標(biāo)準(zhǔn)樣品上進(jìn)行校準(zhǔn)。
用磁性測(cè)厚儀側(cè)量鍍層厚度的側(cè)量誤差，一般為110%鍍層厚
度小于5μm時(shí)，應(yīng)進(jìn)行多次測(cè)量，用統(tǒng)計(jì)方法求出其結(jié)果。
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