本文標題："礦物中微米大小的礦物包裹體鑒定巖石顯微鏡"
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礦物中微米大小的礦物包裹體鑒定巖石顯微鏡
對主礦物中幾個微米大小的礦物包裹體進行鑒定需要有特殊的技術和方法，
大體上可提出如下三種解決途徑: 一種是把礦物包裹體從主礦物中取出來，用X
射線衍射方法對其進行鑒定，例如新礦物一四方硫鐵礦就是用這種途徑鑒定出來
的
另一種是在兩面拋光薄片中，對包裹體礦物進行拋光后，用電子探針分析來
鑒定它們。第三種方法是把兩面拋光薄片埋到克里斯塔邦膠里，然后對包裹體所
在部位進行離子減薄，再把減薄的樣品在透射電鏡上用電子衍射和成分分析的裝
置來對包裹體礦物作鑒定。
對共生關系和結構進行研究是巖石顯微鏡的一個主要功能，在這方面還找不
出比它更好的技術來代替。限于篇幅，只重點說明一個問題，就是使用兩面拋光
薄片和超微薄片的效果要比一般的巖石薄片效果好得多。由于這兩種薄片能給出
一個非常透明的視域，從而可更清晰地觀察礦物之間的結構關系，而且對相鄰礦
物接觸界面和包裹體本身的觀察要更清晰一些。
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